pfeiffer 氦質譜檢漏儀

ThermoStream 熱流儀, 實現高低溫沖擊測試
1. 可針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個 IC , 單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
2. inTEST 熱流儀對測試機平臺 load board 上的 IC 進行溫度循環 / 沖擊; 傳統高低溫試驗箱無法針對此類測試

型號

溫度范圍 °C

輸出氣流量 scfm

變溫速率

ECO-710

-80 至 +225

4 至 18

-55至 +125°C 約 10 s
+125至 -55°C 約 10 s

型號

高低溫沖擊范圍 °C

最大氣體流量 scfm

變溫速率

inTEST ATS-535

-60 至 +225

5

-40 至 +125°C <12 s
+125 至 -40°C <40 s

型號

溫度范圍 °C

最大氣體流量 scfm

變溫速率

inTEST ATS-545

-80 至 +225

18

-55至 +125°C 約 10 S 或更少
 +125至 -55°C 約 10 S 或更少

型號

溫度范圍 °C

最大氣體流量 scfm

變溫速率

inTEST ATS-710

-80 至 +225

18

-55至 +125°C 約 10 s
 +125至 -55°C 約 10 s

型號

溫度范圍 °C

氣體流量 scfm

變溫速率

inTEST ATS-730

-85 至 +225

18

-55至 +125°C <10 s
 +125至 -55°C <10 s

型號

溫度范圍 °C

氣體流量 scfm

變溫速率

inTEST ATS-750-M

-90 至 +300

18

-55至 +125°C <10 s
 +125至 -55°C <10 s

型號

溫度范圍 °C

最大氣體流量 scfm

 變溫速率

inTEST ATS-770-M

-100 至 +225

12

-55 至 +125°C <10 s
+125 至 -55°C <10 s

型號

溫度范圍 °C

最大氣體流量 scfm

變溫速率

inTEST ATS-505

-20 至 +225

10

0 至 +125°C <3 min
+125 至 0°C <4 min

型號

溫度范圍 °C

最大氣體流量 scfm

變溫速率

inTEST ATS-525

-60 至 +225

5

-40 至 +125°C <12 s
+125 至 -40°C <40 s