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    inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測試
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    inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測試

    inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測試
    隨著國家對半導體行業愈加重視, 國內各高校通過積極籌備半導體聯合實驗室等舉措來推動集成電路的產業研究和人才教育的發展, 上海伯東美國 inTEST ThermoStream熱流儀提供清潔干燥的冷熱循環沖擊氣流, 可達到快速精準的測試溫度, 適合模擬各種溫度測試和調節的應用, 獲得高校普遍認可, 已廣泛參與集成電路研發重點項目的研究.

    inTEST 熱流儀應用于集成電路科研項目案例: 國內某高校經過伯東推薦選用 inTEST 高低溫測試機 ATS-545 用于研發高性能微處理器, 網絡通信芯片, 功率器件, 藍牙芯片等科研項目. 如工業級 ICU 芯片要求測試溫度 -40℃ 至 110℃, 溫變速率 -50℃ 至 125℃≤10s, 在帶電情況下, 分別設置高溫, 常溫, 低溫進行溫度循環.
    inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測試
     

    ATS-545-M

    ATS-545-M
    溫度范圍 °C: -75 至 + 225(50 HZ)
    變溫速率: -55至 +125°C
                   約 10 S 或更少
                  +125至 -55°C
                  約 10 S 或更少
    輸出氣流量: 4 至 18 scfm
    溫度精度: ±1℃ 通過美國NIST 校準
    溫度顯示分辨率: ±0.1℃
    溫度傳感器: T或K型熱電偶
    獨有防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻


    上海伯東美國 inTEST 熱流儀通過每秒快速升溫或降溫 18°C, 對 PCB 電路板中的某一單個 IC (模塊) 或整塊集成電路提供精確且快速的環境溫度. 與傳統高低溫試驗箱不同的是 inTEST 高低溫測試機可針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個 IC (模塊)可單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件. 

    美國 inTEST Thermal Solutions 超過 50 年的熱測系統研發專家, 產品包含 ThermoStream 熱流儀, 又稱熱風罩, 實現芯片高低溫沖擊, 冷熱沖擊, Thermochuck, ThermoSpot 接觸式高低溫測試機和 Thermonics Chillers 制冷機. inTEST 已收購 Thermonics 和 Temptronic. 上海伯東是美國 inTEST 中國總代理.

    鑒于客戶信息保密, 若您需要進一步的了解 inTEST 熱流儀, 請參考以下聯絡方式
    上海伯東: 葉小姐                                   臺灣伯東: 王小姐
    T: +86-21-5046-3511 ext 109              T: +886-3-567-9508 ext 161
    F: +86-21-5046-1490                            F: +886-3-567-0049
    M: +86 1391-883-7267 ( 微信同號 )      M: +886-939-653-958
    qq: 2821409400 

    現部分品牌誠招合作代理商, 有意向者歡迎聯絡上海伯東 葉小姐 1391-883-7267
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