普發氦質譜檢漏儀

微控制器 MCU 芯片高低溫測試
上海伯東客戶某具有 20年集成電路芯片設計生產的半導體公司, 采購 inTEST ATS-545-M 高低溫測試機用于工業級通用微控制器 MCU 的高低溫測試, 微控制器 MCU 芯片廣泛應用于手機, 打印機, 工業控制, 醫療設備, 汽車電子以及智慧家庭等領域

微控制器 MCU 芯片需要進行溫度測試
通電測試時, 單一芯片需要在模擬環境下, 也就是不同的溫度下, 測試不同的參數, 驗證是否滿足設計的功能性, 比如通過高低溫測試機模擬溫度 80℃, 監測運行多個參數.
芯片進行高低溫測試時, 除了連接高低溫測試機外, 同時連接一些線纜接到專門的信號檢測儀器上, 查看在特定溫度下 -40℃ 至 160℃ 芯片的功能, 比如運行頻率,功耗等. inTEST 高低溫測試機的主要作用就是快速提供需要的模擬環境溫度.

針對客戶提出的測試要求, 上海伯東提供微控制器 MCU 芯片高低溫測試解決方案

推薦選用美國 intest Thermostream 熱流儀 ATS -545 可滿足客戶的測試標準條件. 1. ATS-545 可提供 -75 to +225°C (50Hz) 的測試溫度 能夠提供有效的均勻的吹掃氣流垂直的吹到客戶所需要的元器件的表面, 4 to 18scfm 風速供客戶根據不同要求提供選擇 2. 提供標準配件, 接受客戶定制, 滿足不同測試的元器件所需要的適當尺寸 3. 在溫度點之間的跳躍, 更快的速度實現切換, 變溫速率 -55至 +125°C <10 s, 溫度精度 ±0.1℃, 可以做 12組不同形式的循環溫度設定. 4. 并且以上操作不影響其他非測試元器件. 保證客戶的單向分析

鑒于客戶信息保密, 若您需要進一步的了解微控制器 MCU 芯片高低溫測試應用, 請參考以下聯絡方式：
上海伯東: 葉女士                             臺灣伯東: 王女士
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